الیکٹران مائکروسکوپ کو اسکین کرنے کے بنیادی اصول
الیکٹران بیم کو اسکیننگ الیکٹران مائکروسکوپ الیکٹران گن کے ذریعے خارج کیا جاتا ہے اور اس کو روشنی کے منبع میں مرکوز کیا جاتا ہے۔ نقطہ روشنی ماخذ ایک تیز رفتار وولٹیج کے تحت ایک اعلی توانائی کا الیکٹران بیم تشکیل دیتا ہے۔ اعلی توانائی والے الیکٹران بیم کو ایک چھوٹے سے قطر کے ساتھ ایک روشنی والے مقام پر دو برقی مقناطیسی عینکوں کے ذریعے مرکوز کیا جاتا ہے ، اور آخری ایک سے گزرتا ہے ایک اسکیننگ کنڈلی کے ساتھ برقی مقناطیسی عینک کے بعد ، الیکٹران بیم ایک راسٹر میں نمونے کے ذریعہ نمونہ کی سطح پر بمباری کرتا ہے۔ جیسے اسکیننگ کا انداز ، اور اسی وقت مختلف گہرائیوں کے الیکٹرانک سگنل کو بھی پرجوش کرتا ہے۔